BGA焊接不良檢測_金相分析

 半導體 / 集成電路     |      2018-11-10

BGA焊接不良檢測超清金相顯微鏡

BGA焊接不良檢測---
                 在SMT貼片生產(chǎn)流程中,對PCB板在焊接過程中變形,BGA本體在焊接過程中變形,造成融化時相互接觸不到,造成漏焊,虛焊,橋連,空洞等不良現(xiàn)象,目前采用制作切片標本,研磨拋光,再用高倍金相顯微鏡進行放大觀察。較傳統(tǒng)的金相顯微,在目視以及視頻采集軟件上,通過放大倍數(shù)超過500倍,將其中一個焊接點放大后研判,而BGA切片樣品,通常有好幾個甚至是多達幾十個焊接點,從第一個到最后一個,未能實現(xiàn)在一張圖片上進行說明,對于工藝的連貫性而言,缺少了追溯的判斷。


 深圳華顯光學提供BGA焊接不良檢測解決方案!


BGA焊接點高倍顯微鏡放大觀察;1個焊接點)

華顯光學于9月份推出超清金相系列,采用2000萬像素,實時15/fps 圖像傳輸,更具備實時拼接功能,可在光學物鏡50或者100倍的情況下,對被檢測產(chǎn)品進行平面圖像拼接。



(圖片來自華顯光學EOC系列超清金相顯微鏡--10X物鏡全景拼接
將整個BGA切片金相分析樣品全景掃描合成后,從第一個到第N個,一個不漏的拍攝存儲,為用戶分析其工藝提供樣品全景分析和追溯。



(電腦操作界面)



(20X物鏡拍攝全景圖,支持圖片瀏覽放大模式)


深圳華顯光學公司超清金相系列,具備明暗場照明系統(tǒng),無限遠平場消色差光學物鏡,

配置智能顯微成像系統(tǒng),無論是目視,視頻放大,測量,都能讓品質(zhì)分析輕松簡便。



如用戶需要對失效分析進行測試,可將樣品寄送我司實驗室(深圳/昆山);華顯光學實驗室從鏡頭,精密測量設備,智能檢測運用,一站式為用戶提供光學解決方案。


超景深合成

深圳華顯光學實驗室,BA301金相顯微鏡 光通信超級綁定線合成"實時"圖像拼接


      作中由于普通顯微鏡景深太小,難以對某些有縱向深度的痕跡進行觀察,采用景深合成能有效的解決景深不足的問題,使用BA301met金相顯微鏡(明暗場顯微檢測系統(tǒng)在500倍下對銅絲斷面進行高倍率景深合成,可輸出一張500倍放大的景深達20mm的超景深痕跡圖像_BGA焊接不良檢測
             因拍攝視野有限,以往為獲取大視野圖像,需對多張不同位置的靜態(tài)圖像進行后期處理,操作同樣麻煩。EOCMosaic2.0突破了"實時圖像拼接"的關鍵技術,擺脫顯微視野和相機感光面的束縛,移動載物臺的同時即可生成拼接圖像_BGA焊接不良檢測只需一鍵點擊,即刻享受無限視野邊界的震撼體驗!


深圳華顯光學_金相分析