導(dǎo)電粒子檢測解決方案
TFT-LCD壓痕導(dǎo)電粒子檢測
一、作業(yè)背景
我們使用的手機大部分都是TFT-LCD屏幕。在T-LCD屏的生產(chǎn)過程有一系列的工藝流程下圖(a)是切割好的F-CD屏幕，尚未連接外部電路: (b) 是驅(qū)動電路IC: (c) 是排線FPC.外部電路連接方法是通過將屏幕與電路對準(zhǔn)，然后加壓、加熱將驅(qū)動電路和排線上的引腳壓制到玻璃上。
在電路壓制過程中會產(chǎn)生凸起的導(dǎo)電球壓痕顆粒(如下圖所示)路連接性越好。
在生產(chǎn)過程中，由于工藝控制存在誤差，往往會導(dǎo)電粒F不夠明顯，進而產(chǎn)生不良產(chǎn)品。
導(dǎo)電粒子壓榨痕跡的樣子和大小是按照壓榨程度變更，用壓痕一般顯微鏡可以看陽刻和陰刻的差異可以測定壓差程度。正常被壓榨的導(dǎo)電粒子痕跡是會明顯看出陽刻和陰刻，但是比較經(jīng)緯或者過分壓榨的導(dǎo)電粒子痕跡是不會明顯看出陽刻和陰刻。DIC微分干涉顯微鏡高清HDMI 200萬像素數(shù)碼成像系統(tǒng)，可以高倍檢測TFT觸摸屏ITO上導(dǎo)電粒子壓合及數(shù)量。
檢測要求：
對TFT觸摸屏ITO上導(dǎo)電粒子壓合及數(shù)量進行檢測。
檢測難度：
壓痕過淺、高倍檢測不夠清晰
案例效果圖：
廣泛應(yīng)用于:
各大液晶面板生產(chǎn)企業(yè) 液晶面板工藝研究部門液晶面板
QA部門
手機、數(shù)碼相機面板生產(chǎn)企業(yè).