二、項(xiàng)目總體需求分析
一、主要檢測(cè)內(nèi)容：
觸摸屏ITO多層電路外觀識(shí)別檢測(cè)；導(dǎo)電粒子外觀檢測(cè)；觸摸屏暗裂現(xiàn)象；
二、要求：
滿足不同尺寸產(chǎn)品運(yùn)用，最大60寸；
清晰看到觸摸屏多層ITO；
清晰觀察到導(dǎo)電粒子形貌；
保護(hù)膜不撕開觀察
三、檢測(cè)分析
多層電路需要無限遠(yuǎn)復(fù)消色差物鏡。
需要落射和透射兩種照明同時(shí)開啟。
三、檢測(cè)產(chǎn)品圖；
四、ITO檢測(cè)效果圖：
低倍數(shù)多層ITO實(shí)時(shí)效果圖
檢測(cè)效果圖：
檢測(cè)效果圖：
檢測(cè)效果圖：
觸摸屏暗裂
檢測(cè)效果圖：
導(dǎo)電粒子放大觀察
檢測(cè)效果圖：
導(dǎo)電粒子放大觀察
五、儀器外觀圖
選用HXJ-GJ310系列高清測(cè)量顯微鏡系統(tǒng)。具備三軸精密測(cè)量，Z軸標(biāo)注功能。適用于12寸以下觸摸屏ITO（可定制觀察尺寸）